ISO/IEC 17025認定事業者

[JCSS 引取り校正　対象リスト]

	校正手法の 区分の呼称	種類	校正対象／商品	校正範囲		拡張不確かさ注1 (信頼の水準約 95 %) [ L = 呼び寸法( mm ) ]
長さ	波長計量器	633 nm 領域の波長 532 nm 領域の波長				1.4 × 10 -13
		ブロックゲージ （光波干渉測定）	ゲージブロック	0.1 mm 以上 100 mm 以下		0.020 μm
				100 mm 超 250 mm 以下		( 0.010 + 0.00010 ・ L ) μm
				250 mm 超 1000 mm 以下		( 0.010 + 0.00012 ・ L ) μm
		ブロックゲージ （比較測定）	ゲージブロック	0.1 mm 以上 100 mm 以下		0.06 μm
				100 mm 超 1000 mm 以下		(0.04 + 0.00043 ・ L ) μm
		各種長さ測定用校正器で測定面が平面であるもの （光波干渉測定）	チェックマスタ	2100 mm 以下		(0.18 + 0.38 ・ L / 1000) μm
			キャリパチェッカ
			内側マイクロチェッカ
			段差マスタ	1 mm 以下		0.030 μm
			段差ブロック	1 mm 以下		0.030 μm
			段差標準片	1 mm 以下		0.030 μm
		各種長さ測定用校正器で測定面が平面であるもの （比較測定）	デプスマイクロチェッカ	0.5 mm 以上 300 mm 以下		( 0.5 + L / 1000 ) μm
			ハイトマスタ	1060 mm 以下
			円筒端面ゲージ	25 mm 以上 500 mm 以下
			段差ゲージ	0.5 mm 以上 1060 mm 以下
			マイクロメータ基準棒	25 mm 以上 1000 mm 以下		( 0.4 + L / 1000 ) μm
		標準尺	標準尺	350 mm 以下		( 0.10 + 0.12 ・ L / 1000 ) μm
				350 mm 超 1000 mm 以下		( 0.06 + 0.25 ・ L / 1000 ) μm
			基準スケール	1000 mm 以下		( 0.15 + 0.33 ・ L / 1000 ) μm
			校正用チャート	パターンサイズ：0.2 mm ～ 4 mm		0.11 μm
		リングゲージ	セットリング	1.75 mm 以上 80 mm 以下		0.7 μm
				80 mm 超 140 mm 以下		0.8 μm
				140 mm 超 200 mm 以下		1.0 μm
				200 mm 超 250 mm 以下		1.1 μm
				250 mm 超 300 mm 以下		1.3 μm
		ダイヤルゲージ校正器	キャリブレーションテスタ	5 mm 以下		0.2 μm
				25 mm 以下		0.4 μm
			インジケータ検査機	100 mm 以下		( 0.1 + 1.2 ・ L / 1000 ) μm
		マイクロメータ	外側マイクロメータ	500 mm 以下		( 1.2 + L / 175 ) μm
			歯厚マイクロメータ	300 mm 以下
			マイクロメータヘッド	25 mm 以下		0.4 μm
			棒形内側マイクロメータ	500 mm 以下		( 3.5 + L / 150 ) μm
		指示マイクロメータ	-	マイクロメータ部：100 mm 以下		( 0.7 + L / 250 ) μm
				インジケータ部：± 0.06 mm		( 0.3 + L / 180) μm
		ノギス	-	600 mm 以下		0.02 mm
				600 mm 超 1000 mm 以下		0.03 mm
		ハイトゲージ	-	600 mm 以下		0.015 mm
				600 mm 超 1000 mm 以下		0.020 mm
		デプスゲージ	-	600 mm 以下		0.02 mm
				600 mm 超 1000 mm 以下		0.03 mm
		ダイヤルゲージ	-	5 mm 以下 (目量 0.001 mm 及び 0.002 mm )		0.6 μm
			-	10 mm 以下 ( 目量 0.01 mm )		0.9 μm
			-	10 mm 超 50 mm 以下 ( 目量 0.01 mm )		1.5 μm
			-	50 mm 超 100 mm 以下 ( 目量 0.01 mm )		2.2 μm
			デジマチックインジケータ	50.8 mm 以下		0.8 μm
				50.8 mm 超 100 mm 以下		1.2 μm
		てこ式ダイヤルゲージ	テストインジケータ	0.6 mm 以下 (目盛 0.001 mm 及び 0.002 mm )		0.5 μm
				1.6 mm 以下 (目盛 0.01 mm )		1.0 μm
		シリンダゲージ	-	6 mm 以上 400 mm 以下		0.5 μm
		電気マイクロメータ	ミューチェッカ	± 5 μm		0.15 μm
				± 200 μm		0.2 μm
				± 2000 μm		1.0 μm
	形状測定器	球（平均直径）	マスターボール	2 mm 以下 10 mm 未満		0.06 μm
				10 mm 以上 40 mm 以下		( 0.024 + 2.6 ・ L / 1000 ) μm
		表面性状	粗さ標準片 （校正用表面性状標準片）	深さ 0.3 μm 以上 20 μm 以下
				算術平均粗さ 0.1 μm 以上 5 μm 以下
				最大高さ粗さ 0.3 μm 以上 20 μm 以下
温度	接触式温度計	抵抗温度計 （比較校正法）	-	4線式白金抵抗 温度計 ( 100 Ω ) 注2	0 ℃ 以上 40 ℃ 以下	6 mK
		指示計器付温度計 （比較校正法）	-	0 ℃ 以上 40 ℃ 以下		8 mK
硬さ	ロックウェル 硬さ試験機等	ロックウェル硬さ標準片	-	20 HRC 以上 25 HRC 以下		0.43 HRC
			-	25 HRC 超 35 HRC 未満		0.44 HRC
			-	35 HRC 以上 45 HRC 以下		0.42 HRC
			-	45 HRC 超 55 HRC 未満		0.39 HRC
			-	55 HRC 以上 65 HRC 以下		0.35 HRC
	ビッカース 硬さ試験機等	ビッカース硬さ標準片	-	85 HV 以上 1050 HV 以下 （試験力 0.9807 N 以上 490.3 N 以下）		d > 193 μm 2.2 % d ≦ 193 μm ( 228 / d ) + 1.02 % くぼみ対角線長さ ( ただし、式中の d は μm )

1. 注1：登録事業者の技術能力の範囲で実現できる最小の不確かさであり、校正証明書に記載する不確かさとは異なる場合があります。
2. 注2：抵抗値 ( R ( T₉₀ )) の温度換算値です。

[JCSS 現地校正　対象リスト]

• ※一部対象外のモデルがありますので、最寄りの営業所までお問い合わせください。