積層セラミックコンデンサの歩留まりを改善したい
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従来の課題
- 積層セラミックコンデンサの歩留まりを改善したい
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ミツトヨの解決提案
- QVシリーズは積層セラミックコンデンサの製造工程毎の品質管理向上に適応します
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期待される効果
- 積層セラミックコンデンサの各工程内測定の自動化を実現します
- 計測データネットワークシステムで工程管理が可能です
機能のご紹介
- 1.豊富な光学レンズラインナップとパワフルなソフトウエアで優れた画像測定を実現します。
- 2.TAF(オプション)を使用すればシートに反りがあっても常にフォーカス状態で測定ができます。
- 3.計測データネットワーク MeasurLink(オプション)を使用して、複数台の測定機による工程管理が可能です。
- 4.外部IOソフト QV Eio(オプション)を利用すれば、簡単にワーク搬送等のオートメーション化が可能です。
ミツトヨのストロングポイント
- 1.TAF(トラッキングオートフォーカス)を使用する事によりフォーカス動作を削減でき、トータル測定時間で競合他社比45%削減(実績)できます。
ご提案システム
Hyper QV/QV Apex シリーズ
TAF (トラッキングオートフォーカス)
計測データネットワーク MeasurLink
ミツトヨの商品や技術を実際に見て体験できるショールームのご案内
ミツトヨの商品・ソリューションを実演・提案するデモンストレーション・スペースとして「M3 Solution Center」を世界各地に展開。商品展示や専任エンジニアによる実演・実技指導のほか、システム導入にあたってのご相談を承っています。
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その他の解決提案・アプリケーション
MeasurLinkによる傾向管理の自動化
デジタル化と自動記録により手書きをなくし、MeasurLinkによりリアルタイムにグラフ化が可能に。
工作機械パーツの平面度測定結果をパソコンへ無線で取込み
デジタル化と無線通信による自動記録により手書きをなくす
大型モーターシャフト等の真円度測定結果の手書き記録を無くす
大型モータ等のシャフトの真円度測定 デジタル化と自動記録により手書きを無くす。測定結果をExcelへ直接入力。
三次元測定機用測定プログラムの測定結果のばらつきを解消
測定プログラム作成者によって測定結果にばらつきが出る 測定スキルの技術継承ができていない 自動測定プログラム生成ソフトウェアの導入と自社の測定ノウハウ・ルールを共有化し、作業者ごとの個人差を解消 測定したい全要素を最短・最速で測定するプログラムを自動生成
三次元測定機用測定プログラムの自動生成により、検査リードタイムの大幅削減を実現
検査部品の増加により、測定プログラム作成に時間がかかる 測定プログラム作成で三次元測定機を占有し、測定時間を確保できない 自動測定プログラム生成ソフトウェアの導入によりCADモデルの完成と同時に最適な測定プログラムをオフラインで生成 検査工数を削減し、製品製造サイクルの大幅な短縮を実現
三次元測定機用測定プログラムを専門知識不要で簡単生成
プログラミングが難しい 教育を受けた人しか使えない 自動測定プログラム生成ソフトウェアによりクリックベースの直感的操作で、簡単に熟練者と同等の測定プログラムを自動生成が可能
