積層セラミックコンデンサの歩留まりを改善したい

解決提案 測定ソリューション

  • 従来の課題

    • 積層セラミックコンデンサの歩留まりを改善したい

  • ミツトヨの解決提案

    • QVシリーズは積層セラミックコンデンサの製造工程毎の品質管理向上に適応します

  • 期待される効果

    • 積層セラミックコンデンサの各工程内測定の自動化を実現します
    • 計測データネットワークシステムで工程管理が可能です

機能のご紹介

  1. 1.豊富な光学レンズラインナップとパワフルなソフトウエアで優れた画像測定を実現します。
  2. 2.TAF(オプション)を使用すればシートに反りがあっても常にフォーカス状態で測定ができます。
  3. 3.計測データネットワーク MeasurLink(オプション)を使用して、複数台の測定機による工程管理が可能です。
  4. 4.外部IOソフト QV Eio(オプション)を利用すれば、簡単にワーク搬送等のオートメーション化が可能です。

ミツトヨのストロングポイント

  1. 1.TAF(トラッキングオートフォーカス)を使用する事によりフォーカス動作を削減でき、トータル測定時間で競合他社比45%削減(実績)できます。

ご提案システム

Hyper QV/QV Apex シリーズ
TAF (トラッキングオートフォーカス)
計測データネットワーク MeasurLink

QV HYPER 302/404/606 Proの商品情報

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