積層セラミックコンデンサの歩留まりを改善したい
-
従来の課題
- 積層セラミックコンデンサの歩留まりを改善したい
-
ミツトヨの解決提案
- QVシリーズは積層セラミックコンデンサの製造工程毎の品質管理向上に適応します
-
期待される効果
- 積層セラミックコンデンサの各工程内測定の自動化を実現します
- 計測データネットワークシステムで工程管理が可能です
機能のご紹介
- 1.豊富な光学レンズラインナップとパワフルなソフトウエアで優れた画像測定を実現します。
- 2.TAF(オプション)を使用すればシートに反りがあっても常にフォーカス状態で測定ができます。
- 3.計測データネットワーク MeasurLink(オプション)を使用して、複数台の測定機による工程管理が可能です。
- 4.外部IOソフト QV Eio(オプション)を利用すれば、簡単にワーク搬送等のオートメーション化が可能です。

ミツトヨのストロングポイント
- 1.TAF(トラッキングオートフォーカス)を使用する事によりフォーカス動作を削減でき、トータル測定時間で競合他社比45%削減(実績)できます。
ご提案システム
Hyper QV/QV Apex シリーズ
TAF (トラッキングオートフォーカス)
計測データネットワーク MeasurLink

ミツトヨの商品や技術を実際に見て体験できるショールームのご案内
ミツトヨの商品・ソリューションを実演・提案するデモンストレーション・スペースとして「M3 Solution Center」を世界各地に展開。商品展示や専任エンジニアによる実演・実技指導のほか、システム導入にあたってのご相談を承っています。
M3 Solution Centerの詳細を見る
その他の解決提案・アプリケーション


高精度な厚み測定を行いたい
超低測定力、高分解能・高精度保証の接触式センサで製品品質の維持・向上に貢献


初心者でも安定した深さ測定ができる
このアタッチメントがあれば、初心者でも繰り返し性の高い安定した結果が得られます


インライン測定で品質管理に貢献
ローラーコンベアやガントリーローダ等の自動搬送装置と三次元測定機の組み合わせで、ノンストップ生産・全数測定が可能になります


単純作業はロボットが肩代わり
測定の全自動化で作業工数を大幅削減可能


誰でも安心・簡単操作の半自動測定
測定プログラムの自動スタートでマウス操作の手間いらず。ワークセット工数を削減


ミツトヨの自動化ソリューション 誰でも安心・簡単操作
簡単操作でポカミス防止。作業者の工数低減と、人を選ばない運用が可能です