エレクトロテスト・ジャパン 2003 ご来場のお礼

 アジア最大規模で開催されたインターネプコンワールドJAPAN2003が本年1月22日〜24日 東京ビッグサイトで開催されました。総来場者数は約 53,000人、主要企業約870社が一堂に集結。 エレクトロテスト製造・実装に関する専門技術、半導体・基板等に関する検査・試験測定機器、光通信に関する専門技術など6つのテーマに分かれ、弊社はエレクトロニクス実装・半導体・基板製造に関する検査・測定機器が一堂に集まった【エレクトロテスト・ジャパン2003】に出展致しました。
 御多忙にもかかわらず弊社ブースにご来場いただき、数多くの貴重な御意見、御質問を賜り誠にありがとうございました。
 今後ともご支援、ご愛顧を賜りますようお願い申し上げます。


弊社出展商品



微細形状測定システム UMAP Vision System


φ30μmの極小プローブにより微細寸法の接触測定を可能にした測定機。
画像測定ヘッドも装備し、測定箇所の位置決めや画像による寸法測定も可能


CNC画像測定機 クイックビジョンエルフシリーズ



クイックビジョンのパフォーマンスを残しつつ、コストパフォーマンスに優れた小形CNC画像測定機の決定版


コンフォーカル観察顕微鏡 FS300-CFシリーズ + 520万画素デジタルカラー画像システム


エルゴノミクスに基づく設計思想により、長時間の観察でも疲労度が少なく作業者の負担を軽減。FEM構造解析による高剛性・高耐振性一体形フレームの実現により、高倍率観察時においても揺れを押さえた安定した観察像をご提供


実体顕微鏡 MSM400シリーズ


充実の高性能に、お求めやすい価格を実現
使いやすさを重視し明るくシャープな観察像と高い色再現性・高い分解能等、優れた品質の光学系を採用。実装基板の外観検査に最適の1台


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