レーザースキャンマイクロメーターで高速全数検査を実現!

アプリケーション 非接触・高精度レーザ測長システム レーザスキャンマイクロメータ
レーザースキャンマイクロメータLSMにより、人手をかけずに安定した高速連続測定を実現しました。
  • 従来の課題

    • 光ファイバ、エナメル線、各種ワイヤの外径測定を抜き取り検査でやっていたが、全数検査に変えて信頼性を高めたい。
    • 人手による抜き取り検査のため、測定値が安定しなかった。
  • ミツトヨの解決提案

    • 毎秒3200スキャンの高精度超高速測定により、安定した高速連続測定を実現
  • 期待される効果

    • 測定者による誤差が無いため常に安定した測定が可能
    • 人手をかけずに生産ラインでの全数検査を高速でおこなえる

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