効率のよい刃先交換チップの外観検査や外観寸法測定
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従来の課題
- 投影機を使用して外観・寸法を観察、測定していたが、位置合わせや調整に時間がかかり非効率だった
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ミツトヨの解決提案
- 投影機PJ-H30の機能と二次元データ処理装置QM-DATA200を組合わせることにより、測定の効率化が図れます。
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期待される効果
- 短時間で効率よく外観・寸法の観察、測定がおこなえます
- 測定者による誤差が低減され、高精度の測定が簡単にできるようになります
スムーズなステージ切り替えと、平行だし作業なしの測定が可能になる
背景
刃先交換チップは、製造現場や検査室で品質チェックのため、欠けや傷が無いか外観を観察し、数か所の寸法値もあわせて測定する必要があります。大量に計測するため、短時間で効率のよい、高精度測定が求められています。
従来の測定方法の課題
従来の投影機は、操作工程に手間がかかり、測定効率が良くありませんでした。寸法測定の際は手動で平行だし作業をおこなうため、測定者により誤差が生じていました。
解決策
PJ-H30のクイックリリース機構により、ステージの粗動・微動を素早く切り替え、ターレット装備でレンズ倍率を素早く変更できます。さらに、QM-DATA200を用いることで平行だし作業なしの距離・角度の測定が可能になり、データの手書き作業もなくします。
効果
- 1.レンズ倍率を素早く切り替え、全体と細部の観察や確認を素早くおこなえます。
- 2.ステージの粗動・微動切り替えがスムーズになり、測定効率が向上します。
- 3.平行だし作業不要のため、測定者による誤差を低減します。
- 4.データの手書き作業が不要になり、測定値のUSB保存が可能です。
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