「SEMICON Japan2025」出展のご案内

展示・イベント プレスリリース
2025年11月17日

株式会社ミツトヨ(本社:川崎市高津区、代表取締役社長:沼田 恵明)は、2025年12月17日(水)から12月19日(金)まで、東京ビッグサイトにて開催される展示会「SEMICON Japan 2025」に出展し測定機のソリューションなどをご紹介いたします。

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SEMICON JapanはSEMIが主催する半導体をメインとした展示会です。ミツトヨブースでは “「測れない」を「測れる」へ、「測りにくい」を「測りやすい」へ、現場に測定の力を” をコンセプトに掲げ、半導体製造工程の生産性向上を実現する各種ソリューションをご提案いたします。ミツトヨでは今後とも日々進化するものづくりの未来へ、精密測定で貢献してまいります。

ご来場の際には、事前に主催者ホームページより来場事前登録(登録無料)をお願いいたします。

<開催概要>

展示会名 SEMICON Japan 2025
会 期 2024年12月17日(水)~19日(金) 
10:00 ~ 17:00
会 場 東京ビッグサイト
小間番号 E4712(東4ホール)
主催者 SEMI
主催HP https://www.semiconjapan.org/jp



<出展予定商品>

・非接触3D 計測システム クイックビジョン WLI Pro シリーズ 
└白色光干渉による微細形状、表面性状評価をご提案。画像1



・非接触変位センサ搭載CNC 画像測定機 クイックビジョンH4 Pro シリーズ
└ガラス基板の測定における高精度・ハイスループットを実現するご提案をいたします。

・CNC 画像測定機 クイックビジョンPro シリーズ
└ハイスループット測定による測定効率の向上をご提案いたします。


・白色光干渉光学ユニット WLI-Unit
・白色干渉測定用対物レンズWLI Plan Apo シリーズ
└白色光干渉による3D 形状測定を手軽に導入いただけるご提案をいたします。 画像2



・焦点距離可変レンズ TAGLENS
└全焦点撮影を可能にしたTAGLENSTM に赤外線対応の顕微鏡システムを組み合わせ透過観察をご提案。画像3



・装置組込顕微鏡ユニット VMU シリーズ
└様々な観察法に対応するラインナップからアプリケーション例をご提案いたします。

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