「第39回 エレクトロテストジャパン」出展のご案内

展示・イベント プレスリリース
2025年01月09日

株式会社ミツトヨ(代表取締役社長:沼田恵明)は、2025年1月22日(水)から1月24日(金)まで、東京ビッグサイトにて開催される展示会「第39回エレクトロテストジャパン」に出展し測定機のソリューションなどを紹介します。

エレクトロテストジャパンはRX Japan(株)が主催するエレクトロニクス製品の検査・試験・測定をメインとした展示会です。ミツトヨブースでは『高度化する“はかる” に挑む|画像測定のミツトヨ』をコンセプトに掲げ電子・電気・半導体製品の生産性向上を実現する各種ソリューションを紹介します。
ご来場の際には、事前に主催者ホームページより来場事前登録(登録無料)をお願いいたします。
 

<開催概要>

展示会名 第39回 エレクトロテストジャパン
会 期 2025年1月22日(水)~24日(金)
10:00 ~ 17:00
会 場 東京ビッグサイト
小間番号 E17-32(東2 ホール)
入場料 無料(事前登録制)
主催者 RX Japan(株)
主催HP https://www.nepconjapan.jp/tokyo/ja-jp/about/et.html

 

<出展製品>

・非接触3D 計測システム クイックビジョンWLI Pro シリーズ 
└3D 計測システムによる半導体先端パッケージ基板の測定をご提案いたします。

 

・CNC 画像測定機 クイックビジョンPro シリーズ 
└パワー半導体等の高速測定による生産性向上のご提案をいたします。

 

・白色光干渉光学ユニット WLI-Unit  
・白色干渉測定用対物レンズ WLI Plan Apo シリーズ
 
└白色光干渉による3D 形状測定を手軽に導入いただけるご提案をいたします。

 

・焦点距離可変レンズ TAGLENS 
└全焦点撮影を可能にしたTAGLENS に赤外線対応の顕微鏡システムを組み合わせ透過観察をご提案。

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