「第39回 エレクトロテストジャパン」出展のご報告

株式会社ミツトヨは、2025年1月22日(水)から1月24日(金)まで、東京ビッグサイトにて開催された「第39回エレクトロテストジャパン」に出展いたしました。
 
弊社では、『高度化する“はかる” に挑む｜画像測定のミツトヨ』をコンセプトに、電子・電機・半導体部品の計測ソリューションをご提案いたしました。
ご来場いただきました皆様に御礼申し上げます。
 
展示当日の様子をお伝えします。

ブース全景

     

「高度化する”はかる”に挑む」をテーマにブースを構築しました。

非接触3D 計測システム　クイックビジョンWLI Pro シリーズ　

     

３D 計測システムによる半導体先端パッケージ基板L/S＝1/1 ㎛の測定事例、近赤外線レンズによる透過計測の事例をご紹介しました。

CNC 画像測定機　クイックビジョンPro シリーズ　

     

ウェハー上にマウントされた複数の半導体チップを高速測定する生産性向上事例をご紹介しました。

白色光干渉光学ユニット　WLI-Unit
白色干渉測定用対物レンズ　WLI Plan Apo シリーズ

白色光干渉計による３D計測を手軽に行える光学ユニットをご紹介しました。