レーザースキャンマイクロメーターで高速全数検査を実現！
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従来の課題
- 光ファイバ、エナメル線、各種ワイヤの外径測定を抜き取り検査でやっていたが、全数検査に変えて信頼性を高めたい。
- 人手による抜き取り検査のため、測定値が安定しなかった。
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ミツトヨの解決提案
- 毎秒3200スキャンの高精度超高速測定により、安定した高速連続測定を実現
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期待される効果
- 測定者による誤差が無いため常に安定した測定が可能
- 人手をかけずに生産ラインでの全数検査を高速でおこなえる
ミツトヨの商品や技術を実際に見て体験できるショールームのご案内
ミツトヨの商品・ソリューションを実演・提案するデモンストレーション・スペースとして「M3 Solution Center」を世界各地に展開。商品展示や専任エンジニアによる実演・実技指導のほか、システム導入にあたってのご相談を承っています。
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