ISO/IEC 17025認定事業者

ミツトヨは、国際規格ISO/IEC 17025の認定を受けた信頼性の高い測定機器の校正サービスを、日本国内はもとより海外各地でISO/IEC 17025認定事業者として展開しております。
以下、日本国内でのJCSS校正対応品目とISO/IEC 17025認定事業者をご紹介します。

JCSS校正対応品目

  • 引取り校正ISO/IEC 17025 の認定を取得している以下の品目に対して、JCSS校正サービスのご提供が可能です。
    コードNo.で対象をご確認したい場合は、引取りサービスWeb受付のお申し込み画面でご確認いただけます。
  • 出張校正ISO/IEC 17025 の認定を取得している以下の品目に対して、JCSS校正サービスのご提供が可能です。
    お持ちの機種がJCSS校正対象機かご不明の場合は、最寄りの営業所までご連絡ください。

[JCSS 引取校正 対象リスト]

校正手法の
区分の呼称
種類 校正対象/商品 校正範囲 拡張不確かさ注1
(信頼の水準約 95 %)
[ L = 呼び寸法( mm ) ]
長さ 波長計量器 633 nm 領域の波長
532 nm 領域の波長
1.4 × 10 -13
ブロックゲージ
(光波干渉測定)
ゲージブロック 0.1 mm 以上 100 mm 以下 0.020 μm
100 mm 超 250 mm 以下 ( 0.010 + 0.00010 ・ L ) μm
250 mm 超 1000 mm 以下 ( 0.010 + 0.00012 ・ L ) μm
ブロックゲージ
(比較測定)
ゲージブロック 0.1 mm 以上 100 mm 以下 0.06 μm
100 mm 超 1000 mm 以下 (0.04 + 0.00043 ・ L ) μm
各種長さ測定用校正器で測定面が平面であるもの
(光波干渉測定)
チェックマスタ 2100 mm 以下 (0.18 + 0.38 ・ L / 1000) μm
キャリパチェッカ
内側マイクロチェッカ
段差マスタ 1 mm 以下 0.030 μm
段差ブロック 1 mm 以下 0.030 μm
段差標準片 1 mm 以下 0.030 μm
各種長さ測定用校正器で測定面が平面であるもの
(比較測定)
デプスマイクロチェッカ 0.5 mm 以上 300 mm 以下 ( 0.5 + L / 1000 ) μm
ハイトマスタ 1060 mm 以下
円筒端面ゲージ 25 mm 以上 500 mm 以下
段差ゲージ 0.5 mm 以上 1060 mm 以下
マイクロメータ基準棒 25 mm 以上 1000 mm 以下 ( 0.4 + L / 1000 ) μm
標準尺 標準尺 350 mm 以下 ( 0.10 + 0.12 ・ L / 1000 ) μm
350 mm 超 1000 mm 以下 ( 0.06 + 0.25 ・ L / 1000 ) μm
基準スケール 1000 mm 以下 ( 0.15 + 0.33 ・ L / 1000 ) μm
校正用チャート パターンサイズ:0.2 mm ~ 4 mm 0.11 μm
リングゲージ セットリング 1.75 mm 以上 80 mm 以下 0.7 μm
80 mm 超 140 mm 以下 0.8 μm
140 mm 超 200 mm 以下 1.0 μm
200 mm 超 250 mm 以下 1.1 μm
250 mm 超 300 mm 以下 1.3 μm
ダイヤルゲージ校正器 キャリブレーションテスタ 5 mm 以下 0.2 μm
25 mm 以下 0.4 μm
インジケータ検査機 100 mm 以下 ( 0.1 + 1.2 ・ L / 1000 ) μm
マイクロメータ 外側マイクロメータ 500 mm 以下 ( 1.2 + L / 175 ) μm
歯厚マイクロメータ 300 mm 以下
マイクロメータヘッド 25 mm 以下 0.4 μm
棒形内側マイクロメータ 500 mm 以下 ( 3.5 + L / 150 ) μm
指示マイクロメータ - マイクロメータ部:100 mm 以下 ( 0.7 + L / 250 ) μm
インジケータ部:± 0.06 mm ( 0.3 + L / 180) μm
ノギス - 600 mm 以下 0.02 mm
600 mm 超 1000 mm 以下 0.03 mm
ハイトゲージ - 600 mm 以下 0.015 mm
600 mm 超 1000 mm 以下 0.020 mm
デプスゲージ - 600 mm 以下 0.02 mm
600 mm 超 1000 mm 以下 0.03 mm
ダイヤルゲージ - 5 mm 以下
(目量 0.001 mm 及び 0.002 mm )
0.6 μm
- 10 mm 以下
( 目量 0.01 mm )
0.9 μm
- 10 mm 超 50 mm 以下
( 目量 0.01 mm )
1.5 μm
- 50 mm 超 100 mm 以下
( 目量 0.01 mm )
2.2 μm
デジマチックインジケータ 50.8 mm 以下 0.8 μm
50.8 mm 超 100 mm 以下 1.2 μm
てこ式ダイヤルゲージ テストインジケータ 0.6 mm 以下
(目盛 0.001 mm 及び 0.002 mm )
0.5 μm
1.6 mm 以下
(目盛 0.01 mm )
1.0 μm
シリンダゲージ - 6 mm 以上 400 mm 以下 0.5 μm
電気マイクロメータ ミューチェッカ ± 5 μm 0.15 μm
± 200 μm 0.2 μm
± 2000 μm 1.0 μm
形状測定器 球(平均直径) マスターボール 2 mm 以下 10 mm 未満 0.06 μm
10 mm 以上 40 mm 以下 ( 0.024 + 2.6 ・ L / 1000 ) μm
表面性状 粗さ標準片
(校正用表面性状標準片)
深さ
0.3 μm 以上 20 μm 以下
算術平均粗さ
0.1 μm 以上 5 μm 以下
最大高さ粗さ
0.3 μm 以上 20 μm 以下
温度 接触式温度計 抵抗温度計
(比較校正法)
- 4線式白金抵抗
温度計 ( 100 Ω )
注2
0 ℃ 以上
40 ℃ 以下
6 mK
指示計器付温度計
(比較校正法)
- 0 ℃ 以上 40 ℃ 以下 8 mK
硬さ ロックウェル
硬さ試験機等
ロックウェル硬さ標準片 - 20 HRC 以上 25 HRC 以下 0.43 HRC
- 25 HRC 超 35 HRC 未満 0.44 HRC
- 35 HRC 以上 45 HRC 以下 0.42 HRC
- 45 HRC 超 55 HRC 未満 0.39 HRC
- 55 HRC 以上 65 HRC 以下 0.35 HRC
ビッカース
硬さ試験機等
ビッカース硬さ標準片 - 85 HV 以上 1050 HV 以下 (試験力 0.9807 N 以上 490.3 N 以下) d > 193 μm
2.2 %
d ≦ 193 μm
( 228 / d ) + 1.02 %
くぼみ対角線長さ
( ただし、式中の d は μm )
  1. 注1:登録事業者の技術能力の範囲で実現できる最小の不確かさであり、校正証明書に記載する不確かさとは異なる場合があります。
  2. 注2:抵抗値 ( R ( T90 )) の温度換算値です。

[JCSS 現地校正 対象リスト]

校正手法の
区分の呼称
種類 校正対象/商品 校正範囲 拡張不確かさ注1
(信頼の水準約 95 %)
[ L = 呼び寸法( mm ) ]
長さ 形状測定器 座標測定機 三次元測定機 250 mm 以下 (0.1 + 0.6 ・ L / 1000) μm
1000 mm 以下 (0.2 + 0.2 ・ L / 1000) μm
10000 mm 以下 (0.1 + 0.6 ・ L / 1000) μm
画像測定機 650 mm 以下 (0.13 + 0.11 ・ L / 1000) μm
1000 mm 以下 (0.22 + 0.23 ・ L / 1000) μm
表面性状 表面粗さ測定機
(接触式表面粗さ測定機)
算術平均粗さ Ra
0.2 μm / 0.5 μm / 1.5 μm
0.02 μm
最大高さ粗さ Rz
1.5 μm / 3.0 μm / 8.5 μm
0.15 μm
硬さ ロックウェル
硬さ試験機等
ロックウェル硬さ試験機 - 20 HRC 以上 25 HRC 以下 0.45 HRC
- 25 HRC 超 35 HRC 未満 0.46 HRC
- 35 HRC 以上 45 HRC 以下 0.44 HRC
- 45 HRC 超 55 HRC 未満 0.41 HRC
- 55 HRC 以上 65 HRC 以下 0.37 HRC
ビッカース
硬さ試験機等
ビッカース硬さ試験機 - 85 HV 以上 1050 HV 以下
(試験力 0.9807 N 以上
490.4 N 以下)
d > 170 μm
2.4 %
d ≦ 170 μm
( 230 / d + 1.1 ) %
くぼみ対角線長さ
( ただし、式中の d は μm )