ミツトヨ精密測定機器・総合カタログNo.13-51版
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N-17N 仕様、価格、デザイン(外観)ならびにサービス内容などは、(予告なしに変更することがあります。あらかじめご了承ください。)座標測定機●三次元を捉える、最先端精密計測技術の結晶非接触レーザプローブSurfaceMeasure●フライングスポット形式は、エッジ部分の測定にも高い形状再現性を実現し、しかもクラス最高のスキャニング精度を達成しています。(SurfaceMeasure 201FSの場合)●超高速データ収集 SurfaceMeasureは、レーザを測定物に照射しながら移動し、測定物表面の座標値を収集するプローブです。75,000点/秒※の超高速データ収集することができます。  ※SurfaceMeasure 606/610/1010使用時●非接触のメリット 非接触なので、接触式では変形してしまうような樹脂や肉薄部品などの弾性体でも測定がすることができます。●パウダーレス測定 環境や測定物材質にあわせた適切なレーザ強度やカメラ感度の設定を自動的に行うことで、パウダ・スプレーレス測定を実現しました。 より簡単、快適なレーザスキャニング環境をご提供いたします。●評価事例 収集した点群データは、各種編集・面生成・CADデータとの比較照合・CADデータ化など、豊富なオプションソフトウェアによって様々な用途に活用していただくことができます。カラーサンプル板の測定光沢物の測定403/606/610/1010606T201FSSurface Measure403SurfaceMeasure 606SurfaceMeasure 610SurfaceMeasure 1010SurfaceMeasure 606TSurfaceMeasure 201FSレーザ照射方式ラインレーザ・シングルラインレーザ・クロスフライングスポット測定幅40 mm60 mm60 mm最大100 mm3×65 mm最大23 mm測定深さ30 mm60 mm100 mm100 mm65 mm15 mmワーキングディスタンス66 mm123 mm165 mm165 mm203.5 mm57.5 mmスキャニング誤差 ※8 µm12 µm15 µm18 µm17 µm1.8 µmデータ取得速度60,000点/秒75,000点/秒3×25,500点/秒25,000点/秒質量430 g430 g400 g400 g480 g500 gレーザクラスEN/IECClass2 [ EN/IEC 60825-1(2007)]JISClass2 [ JIS C 6802:2011 ]媒体赤色半導体レーザ半導体レーザ測定用レーザ波長660 nm670 nm出力4 mW 1 mWガイド用レーザ波長̶635 nm̶出力̶1 mW ̶※弊社指定の検査方法による。(1σ/球測定)、プローブ単体誤差■仕様単位:µm10010011516560601593123601001151656065171203.55057.5606汎用測定610深物測定1010大物測定606T深物・板金測定201FS高感度・汎用測定24040305166403汎用測定183282282147.5170TD高感度・286289

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