JIS改正の要点（旧規格との比較）検査項目の比較

1. 1.測定精度
   1. a.各軸の測定精度（U1）
   2. b.空間の測定精度（U3）
2. 2.各軸運動精度
   1. a.指示精度（G)
   2. b.真直度（M）
   3. c.直角度（N）
   4. d.ピッチング(α）
      ヨーイング(β)
      ローリング(γ）

1. 1.座標測定機の指示誤差
   1. a.受入検査（E）
   2. b.定期検査（V）
2. 2.プロービング誤差
   1. a.受入検査（R）
   2. b.定期検査（S）

※受入検査と定期検査で表記が変わる。

1. 1.用語
2. 2.長さ測定
   1. a.指示誤差（E）
   2. b.プロービング誤差（P）
3. 3.ロータリテーブル付きCMM
   1. a.回転軸半径方向誤差（FR）
   2. b.回転軸接線方向誤差（FT）
   3. c.回転軸軸方向誤差（FA）
4. 4.スキャニング検査
   1. a.スキャニングプロービング誤差（Tij）
   2. b.スキャニング検査時間（τij）
5. 5.マルチスタイラス検査
   1. a.固定マルチスタイラスプロ-ビングシステム
      1. I.形状誤差 （ＭF）
      2. II.サイズ誤差 （ＭS）
      3. III. 位置誤差 （ＭL）
   2. b.回転式プロービングシステム
      1. I.形状誤差 （AF）
      2. II.サイズ誤差 （AS）
      3. III. 位置誤差 （AL）
6. 6.ソフトウェア検査
   1. JISでは座標測定から当てはめ形体を計算するソフトウェアの検査方法について規定しています。
      適用する形体は、直線、平面、円、球、円すい及び輪環です。

※ミツトヨ検査においてはpart1～part5 に対応しております。
(ただし、part-3及びpart-5のマルチスタイラス検査に関しては、オプション扱いとなりますので、最寄りの営業所へご相談をお願いいたします。)

1. PART
2. 1.用語
3. 2.長さ測定
   1. a.Z軸スタイラスオフセットが0mmにおける長さ測定誤差（E₀）
   2. b.Z軸スタイラスオフセットが150mmにおける長さ測定誤差（E₁₅₀）
   3. c.長さ測定誤差の繰返し範囲（R₀）
   4. d.標準器の熱膨張係数の制限
4. 3.ロータリテーブル付きCMM
   1. a.回転軸半径方向誤差（FR）
   2. b.回転軸接線方向誤差（FT）
   3. c.回転軸軸方向誤差（FA）
5. 4.スキャニング検査
   1. a.スキャニングプロービング誤差（Tij）
   2. b.スキャニング検査時間（τij）
6. 5.シングル及びマルチスタイラス検査
   1. a.シングルスタイラス検査
      1. シングルスタイラス形状誤差（P_FTU）
   2. b.マルチスタイラス検査
      1. I.マルチスタイラス形状誤差（P_FTｊ）
      2. II.マルチスタイラス寸法誤差（P_STｊ）
      3. III. マルチスタイラス位置誤差（P_LTｊ）
7. 6.ソフトウェア検査
   1. JISでは座標測定から当てはめ形体を計算するソフトウェアの検査方法について規定しています。
      適用する形体は、直線、平面、円、球、円すい及び輪環です。

※ミツトヨ検査においてはpart1～part5 に対応しております。
(ただし、part-3及びpart-5のマルチスタイラス検査に関しては、オプション扱いとなりますので、最寄りの営業所へご相談をお願いいたします。)